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冷熱沖擊試驗箱技術(shù)規(guī)格::
型號(CM) | SET-A | SET-B | SET-C | SET-D | SET-G | |
內(nèi)部尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 80×70×60 | |
外部尺寸 | 140×165×165 | 150×190×175 | 160×190×185 | 170×240×195 | 180×260×200 | |
結(jié)構(gòu) | 三箱式(預(yù)冷箱)(預(yù)熱箱)(測試箱) | |||||
氣門裝置 | 強制的空氣裝置氣門 | |||||
內(nèi)箱材質(zhì) | SUS#304不銹鋼 | |||||
外箱材質(zhì) | 冷軋鋼板靜電噴塑 | |||||
冷凍系統(tǒng) | 機械壓縮二元式 復(fù)疊制冷方式 | |||||
轉(zhuǎn)換時間 | <10Sec | |||||
溫度恢復(fù)時間 | <5min | |||||
溫度偏差 | ±2℃ | |||||
冷卻方式 | 水冷 | |||||
駐留時間 | 30 min | |||||
溫度范圍 | 預(yù)熱溫度 | +60~200℃(40min) | ||||
高溫沖擊 | +60~150℃ | |||||
預(yù)冷溫度 | +20℃~-80℃(70min) | |||||
低溫沖擊 | -10℃~-40℃/-55℃/-65℃ | |||||
溫度傳感器 | JIS RTD PT100Ω × 3 (白金傳感器) | |||||
控制器 | 液晶顯示觸摸屏PLC控制器 | |||||
控制方式 | 靠積分飽和PID,模糊算法 平衡式調(diào)溫P.I.D + P.W.M + S.S.R | |||||
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 附照明玻璃窗口1套、試品架2個、測試引線孔1個 | |||||
安全保護 | 漏電、短路、超溫、缺水、電機過熱、壓縮機超壓、超載、過電流保護 | |||||
電源電壓 | AC380V 50Hz三相四線+接地線 |
產(chǎn)品研制不同階段,冷熱沖擊試驗的目的也不盡相同:工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計和工藝缺陷;產(chǎn)品定型或設(shè)計鑒定和批產(chǎn)階段驗收決策提供依據(jù);作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時,目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。
冷熱沖擊測試試驗有諸多注意事項,例如:測試前,產(chǎn)品須生產(chǎn)后放置24H以上才能安排測試,否則將直接影響測試結(jié)果;因現(xiàn)在對質(zhì)量的要求越來越嚴(yán)格,因此通常將冷熱沖擊與鹽霧測試搭配檢測。更多冷熱沖擊箱使用注意事項,點擊藍(lán)字查看。
常見的冷熱沖擊側(cè)式標(biāo)準(zhǔn)有:GJB 150-86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法》;GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》;美軍標(biāo)MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實驗室試驗》。
市面上常見的冷熱沖擊箱一般分為兩箱式和三箱式,他們的工作方式有什么不同呢?
停留階段的不同
二箱式冷熱沖擊試驗箱是:沒有常溫停留階段,只有高溫及低溫停留,高低溫停留階段初期有明顯的過沖現(xiàn)象。
三箱式冷熱沖擊試驗箱是:有常溫停留階段,因控制原理不同,高低溫及常溫停留階段類似正弦函數(shù)的曲線。
功能方面不同
兩箱式冷熱沖擊試驗箱:兩個箱體,高溫箱體和低溫箱體,中間是吊籃。測試時樣品放在吊籃里,做高溫測試時吊籃提到高溫箱,反之做低溫試驗。因樣品快速放入預(yù)先降溫的低溫室或預(yù)先加熱的高溫室,溫速度快;結(jié)構(gòu)緊湊,一般容積較??;轉(zhuǎn)換時間短,試驗時產(chǎn)品需要移動;可作為熱沖擊箱使用又可以作單獨的高溫箱或單獨的低溫箱使用。
三箱式冷熱沖擊試驗箱是:三個箱體,高溫箱體、放置樣品的箱體及低溫箱體,測試高溫時,高溫箱門打開,低溫箱門關(guān)閉。測試低溫時,高溫箱門關(guān)閉,低溫箱門打開;有室溫狀態(tài),便于取放樣品;產(chǎn)品不移動,減少產(chǎn)品移動對產(chǎn)品造成的影響,可以接一些敏感電信號監(jiān)測線;轉(zhuǎn)換時間比較長。